2017/09/27
庆应义塾大学
庆应义塾大学大学院理工学研究科の森脇淳仁（修士課程１年）、同理工学部物理学科岡野真人専任講師および渡邉紳一准教授の研究グループは、テラヘルツ偏光計測法による黒色ゴム材料の定量的なひずみイメージングに成功しました。
黒色ゴムはタイヤや防振ゴムなどに幅広く利用されていますが、光は透过しないため、その内部ひずみ検査は困难です。今回、黒色ゴムを透过するテラヘルツ光を用いることで、ひずみ量をあらわすひずみテンソル各成分の定量的なイメージング计测を実现しました。本研究成果を用いることで、より定量的に黒色ゴム材料内部のひずみ状态が理解できるようになりました。今后、各种ゴム材料の新しい非破壊検査ツールとして期待されます。
本研究成果は、2017年9月22日（現地時間）に『APL Photonics』で公開されました。
プレスリリース全文は、以下をご覧下さい。