2022/01/18
庆应义塾大学
产业技术総合研究所
研究当時、庆应义塾大学大学院理工学研究科の住原花奈（現在は修了）、同大学理工学部物理学科岡野真人元専任講師（現防衛大学校准教授）、渡邉紳一教授、产业技术総合研究所物理計測標準研究部門光周波数計測研究グループの大久保章主任研究員、稲場肇研究グループ長の研究グループは、平板材料の厚さと屈折率を、同時に極めて高精度に計測する技術を開発しました。
光学レンズをはじめとした光学素子の设计には、材料を构成する物质の屈折率を正确に决定することが不可欠です。また、光学レンズ加工前の平板材料の正确な厚さの决定も重要です。今回、光の位相変化量を正确に直接计测できるデュアルコム分光法を用いて、平板シリコン材料の厚さと屈折率を、非接触で、多波长に対して高精度に同时计测する手法を开発しました。本手法は、材料の屈折率を、平板形状のまま、究极的な精度で计测できる画期的なものです。今后、各种光学材料の正确な屈折率计测に応用することで、光学素子の高精度设计につながることが期待できます。
本研究成果は、2022年1月12日（現地時間）に『Optics Express』で公開されました。
プレスリリース全文は、以下をご覧下さい。